Anaïs PONS, Responsable du laboratoire de caractérisation électro-optique de PISÉO, a rejoint en tant qu’experte à la commission de normalisation UF 76 « Sécurité des rayonnements optiques et matériels laser » de l’AFNOR membre du CENELEC et de l’IEC.
Cette inscription représente une reconnaissance forte de l’expertise de PISÉO dans le domaine de l’évaluation des risques optiques des sources LED et lasers fonctionnant dans l’UV, le visible et l’IR, ainsi que des systèmes et installations qui les intègrent.
L’engagement de PISÉO au sein la commission de normalisation UF76 s’inscrit pleinement dans son rôle de plateforme d’innovation. En effet, grâce à leur expertise en optique-photonique et à leurs moyens techniques, nos experts accompagnent le développement de nos Clients industriels au travers de prestations de service à haute valeur ajoutée : études de faisabilité, conception optique et simulation, développement et industrialisation de systèmes, essais en laboratoire accrédité COFRAC (portée disponible sous www.cofrac.fr) et sur site, formation, conseils.
L’évaluation du risque optique lié aux sources de lumière artificielle fait partie intégrante de ces prestations. En effet, nous réalisons ces évaluations par calcul et simulations lors du développement des produits ou des bancs de tests optique mais aussi grâce à des mesures effectuées directement sur les sources et les systèmes.
Ces évaluations s’appuient sur des normes harmonisées comme l’IEC 62471 pour les sources non-cohérentes (LED) et l’IEC 60825 pour les sources cohérentes (LASER), ainsi que la réglementation en vigueur pour assurer la protection des usagers et des travailleurs.
Notre implication dans les travaux de normalisation nous permet une compréhension précise des méthodes d’évaluation du risque optique, de confronter notre expérience industrielle de terrain avec celles des autres experts de la commission et de contribuer activement à l’évolution de ces méthodes.
